お客様の要求に応じて、MIL-STD、JEDEC、 IEC、 JESD、AEC、 EIA等の規程に従って、それぞれの信頼性評価を実施します。また、量産評価、故障分析、寿命実力、小LOT試作品、設計品の実力評価についてもご要求に応じて対応します。

Reliability Test

評価名	別称等	試験概要	対応規格
高温保存試験	HTS	保管や稼動における耐久性を温度を上げて短時間で評価します。	・JEITA ED-4701（IEC 60068-2) ・JIS 60068-2 ・MIL-STD-202/750/883 ・そのた規格の対応。
高温動作寿命試験	HTOL	稼動における耐久性を電圧・温度を上げて短時間で評価します。
高温高湿保存試験	HHT	使用環境における湿度に対する耐久性を温度・湿度を上げて短時間で評価します。
高温高湿通電試験	HHBT	稼働中の温湿度と電圧の相互作用による耐久性を温度・湿度・電圧を上げて短時間で評価します。
冷熱衝撃温度試験	TC	温度変化のある環境で使用する場合に対し、高低温の温度変化の繰り返しによる耐久性を温度変化幅を大きくして短時間で評価します。
高温加速寿命試験	PCT	高温高湿が特性劣化に与える影響を加速して評価します。
IR Reflow	IR	製品実装時の状況をシミュレーションします。

信頼性実験室の設備装置紹介

設備装置		型番	メーカー	設備裝置條件
TC	冷熱衝撃試験機	TSK-C4T-150 (NO.6087K)	慶聲科技	温度　　-65 ～ 150℃ 予冷ゾーン　　-80 ～ -10℃ 熱温度ゾーン　　60 ～ 200℃
HHT	恒温恒湿試験機	THS-A7T-150 (NO.6810KT)	慶聲科技	温度　　-70 ～ 150℃ 湿度　　10 ～ 98%RH
PCT	高温加速寿命試験	HAST-S (No.4498T)	慶聲科技	温度　　105 ～132℃ 湿度　　75 ～100%RH 大気圧力　　1.20 Kg ～ 2.89 Kg / cm*G
IR Reflow	赤外線リフロー炉	SMD-10S8HAO (serial no. F071480090)	台技工業	温度　　Ｍax 350℃
HT	高温保管BOX #2	DS-A 611010 (serial no.B95001)	寅輝科技	温度　　50℃ ～ 200℃
	高温保管箱BOX #1	OCB-3500 (serial no.B97010)	寅輝科技	温度　　50℃ ～ 200℃
SEM+EDX	電子走査顕微鏡	SN-3400N(TypeII) (serial no. :340866-01)	益弘儀器 HITACHI	Magnification 拡大倍率 : High-vacuum: 　-3.0nm at 30KV(SE) 　-10nm at 1KV(SE) Low-vacuum: 　-4.0nm at 30KV(BSE) The lifetime of filamentランプ寿命 : 40H
通電設備	パワーサプライ 基板 測定ソケット	GW Instek 型番:GPR-11H 30D	寅輝科技	基板 ：耐温150℃まで 　PF-150 (for HT-PS25XX) 　PS-150 (for HHT-PS25XX) 　SOP-40-101 (for HHT/HT PS27XX/28XX パワーサプライ ： 　Output Volts (V) : 0 ～ 110 　Output Amps (A) :0 ～ 3

評価項目詳細

HTS高温保存試験HTS (High Temperature Storage -test)

目的	高温下で長時間保管した場合の信頼性、製品の耐久性を確認する試験です。 加速劣化試験(Aging Test)であり、高温寿命試験とも称します。
方法	指定した温度条件を維持できる環境試験器。 ・温度範囲　　50℃～200℃ ・槽内寸法　　(OCB) ：350(W)×450(H)×350(D)mm 　　　　　　　(DS-A)：400(W)X500(H)X430(D)mm
設備	寅輝科技製　　型番：OCB-3500（1台）、DS-A 611010 （1台）

HTOL高温動作寿命試験HTOL (High Temperature Operation Life test)

目的	高温下で長期間動作した場合の信頼性、製品の耐久性を確認する試験です。 高温下でデバイスに指定の条件で通電し、劣化を確認します。
方法	指定された温度条件を維持できる環境試験器で、デバイスに電圧或いは電流を連続して印加する寿命試験です。 ・温度範囲　　50℃～200℃ ・槽内寸法　　(OCB) ：350(W)×450(H)×350(D)mm 　　　　　　　(DS-A)：400(W)X500(H)X430(D)mm
設備	寅輝科技製：型番OCB-3500 (1台) 、DS-A 611010(1台) 寅輝科技製：通電設備 基板 ：耐高温: 150℃ パワーサプライ：GW Instek (固緯電子) 型番：GPR-11H 30D Output Volts (V) : 0 ～ 110 Output Amps (A): 0 ～ 3

HHT高温高湿通電試験HHT (High Temperature High Humidity Storage -Test)

目的	デバイスを高温高湿の雰囲気中で使用、および保管した場合の耐性を評価します。
方法	指定された条件で温度、相対湿度を維持できる環境試験器です ・温度範囲　　-70℃～150℃ ・湿度範囲　　10 ～ 98%RH ・槽内寸法　　500(W)×550(D)×600(H)mm
設備	慶聲科技製 型番: THD-A7T-150(1台)

HHBT高温高湿通電試験HHBT (High Temperature High Humidity Biased -Test)

目的	デバイスを高温高湿の雰囲気中で使用、および保管した場合の、製品の絶縁性、マイグレーション等に対する耐性を評価します。
方法	指定された条件で温度、相対湿度を維持できる環境試験器で、デバイスに電圧或いは電流を連続に印加するLife試験です。 ・温度範囲　　-70℃～150℃ ・湿度範囲　　10 ～ 98%RH ・槽内寸法　　500(W)×550(D)×600(H)mm
設備	慶聲科技製 型番: THD-A7T-150 寅輝科技製：通電設備 基板 ：耐高温: 150℃ 電源供應器：GW Instek (固緯電子)型番:GPR-11H 30D Output Volts (V) : 0 ～ 110 Output Amps (A) :0 ～ 3

TC冷熱衝撃設備TC (Temperature Cycling Test)

目的	高温および低温を交互に繰り返し、温度変化のストレスをデバイスに与えることで、短時間で製品の耐久性を評価します。
方法	高温と低温を交互に繰り返し与え、故意に急遽な熱膨張冷縮させます。 ・温度範囲　　-65℃～150℃ ・槽内寸法　　600(W)×510(D)×500(H) mm
設備	慶聲科技製 型番: TSK-X4T-150

PCT高温加速寿命試験PCT (Pressure Cooker Storage - Test)=(Highly Accelerated Stress Tester)

目的	高温度、高湿度、蒸気圧力を加え過度の水分吸収を行い、製品の耐湿評価を短時間で評価します。
方法	指定された条件で温度、相対湿度を維持できる環境試験器です。 ・温度範囲　　105℃～132℃ ・湿度範囲　　75 ～100%RH ・大氣圧力範囲　　1.20 Kg ～ 2.89 Kg / cm*G ・槽内寸法　　Φ220×330 mm
設備	慶聲科技製 型番: HAST-S

IR Reflow赤外線リフロー炉装置IR Reflow Test

目的	IRリフロー炉で実装基板にハンダ付される際に受ける温度ストレスを、製品に与える試験です。
方法	指定された条件に基づき、温度、回数、熱応力、時間を試験します。 ・温度範囲　　Max : 350℃ ・外型寸法　　2550(L)×110(W)×1300(H) mm ・内部輸送網寬度　　250mm ・内部作業高度　　30mm
設備	台技工業製 型番：SMD-10-S8HAO

SEM+EDS電子走査顕微鏡

目的	製品表面を拡大して故障原因を監察し、物質の元素分析を行います。
方法	・放大倍率　　x5 ～ x300,000 ・加速電圧　　0.3～30kV ・サンプル最大サイズ　　150mm
設備	HITACHI製： SEM [Model: S-3400N (Type II) ：EDS [Model: EX-250] ※ 益弘儀器代理