依據客戶需求，遵從MIL-STD、JEDEC、 IEC、 JESD、AEC、 EIA等規章實施各自之信賴性評價。此外，亦可對應量產評價、故障分析、壽命實力、小批量試作品、設計品之實力評價需求。

Reliability Test

試驗名稱	簡稱	試驗概要	對應規格
高溫保存試驗	HTS	對於保存或是稼動,提升溫度透過短時間評價耐久性。	・JEITA ED-4701（IEC 60068-2) ・JIS 60068-2 ・MIL-STD-202/750/883 ・其他規格對應。
高溫動作壽命試驗	HTOL	對於稼動, 提升電壓・溫度透過短時間評價耐久性。
高溫高濕保存試驗	HHT	對於使用環境之濕度, 提升溫度・濕度透過短時間評價耐久性。
高溫高濕通電試驗	HHBT	經由稼働中的溫度、濕度和電壓的相互作用, 提升溫度・濕度・電壓透過短時間評價耐久性。
冷熱衝擊溫度試驗	TC	對於在有溫度變化的環境下使用時、針對重複高低溫的溫度變化, 調大溫度變化幅度後透過短時間評價耐久性。
高溫加速壽命試驗	PCT	透過高溫高濕加速特性劣化之影響, 實施評價。
IR Reflow	IR	模擬產品實裝時的狀況。

信賴性實驗室設備裝置介紹

設備裝置		型號	廠商	設備裝置條件
TC	冷熱衝擊試驗機	TSK-C4T-150 (No. 6087K)	慶聲科技	溫度　　-65 ～ 150℃ 預冷區　　-80 ～ -10℃ 熱溫度區　　60 ～ 200℃
HHT	恆溫恆濕試驗機	THS-A7T-150 (No. 6810KT)	慶聲科技	溫度　　-70 ～ 150℃ 濕度　　10 ～ 98%RH
PCT	高溫加速壽命試驗	HAST-S (No. 4498T)	慶聲科技	溫度　　105 ～132℃ 濕度　　75 ～100%RH 大氣壓力　　1.20 Kg ～ 2.89 Kg / cm*G
IR Reflow	紅外線回焊爐	SMD-10S8HAO (Serial No. F071480090)	台技工業	溫度　　Max 350℃
HT	高溫保管BOX #2	DS-A 611010 (Serial No. B95001)	寅輝科技	溫度　　50℃ ～ 200℃
	高溫保管箱BOX #1	OCB-3500 (Serial No. B97010)	寅輝科技	溫度　　50℃ ～ 200℃
SEM+EDX	電子掃描顯微鏡	SN-3400N(TypeII) (Serial No. 340866-01)	益弘儀器 HITACHI	Magnification 放大倍率 : High-vacuum: 　-3.0nm at 30KV(SE) 　-10nm at 1KV(SE) Low-vacuum: 　-4.0nm at 30KV(BSE) The lifetime of filament燈絲壽命 : 40H
通電設備	電源供應器 基板 測試組架	GW Instek(固緯電子) 型號:GPR-11H 30D	寅輝科技	基板 ：耐溫至150℃，全面金5 u inch 　PF-150 (for HT-PS25XX) 　PS-150 (for HHT-PS25XX) 　SOP-40-101 (for HHT/HT PS27XX/28XX) 電源供應器 ： 　Output Volts (V) : 0 ～ 110 　Output Amps (A) : 0 ～ 3

試驗項目詳細

HTS高溫保存試驗HTS (High Temperature Storage -test)

目的	産品放在高溫中，置放一段時問(如7天)，並不斷進行模擬工作以測試其功能的變化情形，是一種加速老化試驗(Aging Test)，也稱為壽命試驗。是具可靠度耐用型電子產品出貨前必須要進行的工作。
方法	可以保持指定條件的溫度的環境試驗器。 ・溫度範圍　　50℃～200℃ ・槽内寸法　　(OCB) ：350(W)×450(H)×350(D)mm 　　　　　　　(DS-A)：400(W)x500(H)x430(D)mm
設備	寅輝科技製　　型號：OCB-3500（1台）、DS-A 611010 （1台）

HTOL高溫通電試驗HTOL (High Temperature Operation Life test)

目的	主要用於模擬產品在氣候高溫條件下並施加產品施加電壓或電流連續通電的Life試驗，檢測產品本身的適應能力與特性是否改變
方法	可以保持指定條件的溫度的環境試驗器。環境下對產品施加電壓或電流連續通電的Life試驗。 ・溫度範圍　　50℃～200℃ ・槽内寸法　　(OCB) ：350(W)×450(H)×350(D)mm 　　　　　　　(DS-A)：400(W)X500(H)X430(D)mm
設備	寅輝科技製：型號OCB-3500 (1台) 、DS-A 611010(1台) 寅輝科技製：通電設備 基板 ：耐高溫: 150℃ 電源供應器：GW Instek (固緯電子) 型番：GPR-11H 30D Output Volts (V) : 0 ～ 110 Output Amps (A): 0 ～ 3

HHT高溫高濕通電試驗HHT (High Temperature High Humidity Storage -Test)

目的	主要用於是模擬產品在氣候環境溫濕組合條件下(高低溫操作&儲存、溫度循環、高溫高濕、低溫低濕等)，檢測產品本身的適應能力與特性是否改變。
方法	可以保持指定條件的溫度、相對濕度的環境試驗器。 ・溫度範圍　　-70℃～150℃ ・濕度範圍　　10 ～ 98%RH ・槽内寸法　　500(W)×550(D)×600(H)mm
設備	慶聲科技製 型號: THD-A7T-150(1台)

HHBT高溫高濕通電試驗HHBT (High Temperature High Humidity Biased -Test)

目的	主要用於是模擬產品在氣候環境溫濕組合條件下並施加產品施加電壓或電流連續通電的Life試驗，檢測產品本身的適應能力與特性是否改變。
方法	可以保持指定條件的溫度、相對濕度的環境試驗器。環境下對產品施加電壓或電流連續通電的Life試驗。 ・溫度範圍　　-70℃～150℃ ・濕度範圍　　10 ～ 98%RH ・槽内寸法　　500(W)×550(D)×600(H)mm
設備	慶聲科技製 型番: THD-A7T-150 寅輝科技製:通電設備 基板 ：耐高溫: 150℃ 電源供應器：GW Instek (固緯電子)型號:GPR-11H 30D Output Volts (V) : 0 ～ 110 Output Amps (A) :0 ～ 3

TC冷熱衝撃設備TC (Temperature Cycling Test)

目的	主要用於測試材料結構或複合材料，在瞬間下經極高溫及極低溫的連續環境下所能忍受的程度, 藉以在最短時間內 試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害.適用的對象包括金屬, 塑膠, 橡膠, 電子....等材料。
方法	在高低溫循環的設備中，刻意進行劇烈的熱脹冷縮，以考驗各個導體、零件，與接點的可靠度 ・溫度範圍　　-65℃～150℃ ・槽内寸法　　600(W)×510(D)×500(H) mm
設備	慶聲科技製 型號: TSK-X4T-150

PCT高溫加速壽命試驗PCT (Pressure Cooker Storage - Test)=(Highly Accelerated Stress Tester)

目的	主要用於測試半導體封裝之抗濕氣能力，又稱(Auto Clave)。是一種對膠封，壓合，或封裝後，其產品是否會因漏氣，漏水，吸水等，是否進一步出現劣化效應之試驗法。
方法	可以保持指定的溫度、相對濕度及大氣壓力等的條件環境試驗器。 ・溫度範圍　　105℃～132℃ ・濕度範圍　　75 ～100%RH ・大氣壓力範圍　　1.20 Kg ～ 2.89 Kg / cm*G ・槽内寸法　　Φ220×330 mm
設備	慶聲科技製 型號: HAST-S

IR Reflow紅外線回焊爐裝置IR Reflow Test

目的	讓產品用輸送帶經過各個加熱的區槽，模擬客戶SMD實裝時的條件。
方法	ＩＲ Reflow使用條件規定的温度、回数、熱應力、時間、加壓。 ・溫度範圍　　Max : 350℃ ・外型寸法　　2550(L)×110(W)×1300(H) mm ・内部輸送網寬度　　250mm ・内部作業高度　　30mm
設備	台技工業製 型號：SMD-10-S8HAO

SEM+EDS電子掃描顯微鏡

目的	產品的表面擴大觀察及物質的元素分析。
方法	・放大倍率　　x5 ～ x300,000 ・加速電壓　　0.3～30kV ・樣品最大尺寸　　150mm
設備	HITACHI製： SEM [Model: S-3400N (Type II) ：EDS [Model: EX-250] ※ 益弘儀器代理